WIN-WIN50是东京精密在“共赢关系”的理念下，以其独创的光学系统，超高速的画像处理系统，超精密的测试台等，融合了最先进的技术开发出来的与目前同类设备完全不同水平的世界最高性能的硅片外观检查设备。

WIN-WIN50是针对65纳米以下水平的设计开发及量产所研制出来的具有下世纪水平的硅片外观检查设备。

WIN-WIN50通过多种波长及照明系统可以对应多种工艺条件。通过抑制前程缺陷，捕捉微弱的缺陷信号等方法，发现影响到产品良率的重大缺陷。